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在半导体行业应用：LED芯片三维测量LED晶圆光学检测BGA半导体封装光伏晶圆表面形貌测量涂层厚度时与部件无任何接触。激光和红外传感器可分析2至50厘米距离的涂层。这意味着可以在工业涂层环境中测量部件，即使它们位于移动产线上、在高温环境中，甚至易碎或潮湿环境中。由于激光束产生的热量极少，因此测量过程中涂层和部件都不会被损坏或改变。因此，对于那些迄今已有的方法会破坏测试样品的工业运用，它也可以系统地测量每个部件。测量通常不到一秒钟，具有高度重复性。这样可以控制高达100％的涂层部件，严格遵循涂层工艺性能并实时反应以保持比较好状使用简单，拆装方便，扫描速度快，定位精度高重复精度±0.5~±1µm；稳定性高，抗干扰能力强。上海Marposs 传感器品牌

优势??非接触三维表面轮廓测量??噪音小，测量重复性好??纳米级分辨率：Z轴分辨率比较高可达0.1nm??测量的点云数多：一个面**多可以达到500万个点??点间距小，XY分辨率高??多种视野范围可供选择，快速切换物镜变换视野??测量速度快，可实现在线测量技术特点1.干涉条纹扫描测量表面位置信息的理论根据是被测表面上各点深度不同所形成的干涉光强不同。2.产生干涉情况下，波长与可测量的深度数据相对应。3.在白光干涉中，干涉图样是由各色光形成的单色干涉图样形成的。被测表面上各点的深度不同，根据光的波动性与同调性，所对应的干涉光强中各频谱成分的强度不同，各色光的干涉级次不同。有助于更加准确的得到表面的位置信息上海stil传感器厂家马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，有想法的可以来电咨询！

激光干涉位移传感器激光干涉仪：超精密皮米位移传感器可实时测量位移、运动和振动，并具有10MHz的数据带宽。一个控制器可连接三个传感测头。认证精度稳定的激光源可确保在纳米范围内获得认证的重复性和准确性。PTB(德国联邦物理技术研究院)已正式测试井证明了lDS3010的高精度。此外，每个IDS3010都是NIST可追踪的。大距离范围IDS3010够进行从几毫米到30m的动态位移测量。高达10Mhz的高带宽,即使在远距离情况下也可以进行振动检测。紧凑和模块设计IDS3010控制器和传感器头的基于光纤的微型化设计允许集成到空间受限的系统中。它的模块化使更换和重新安排变得容易。真空兼容传感头和光纤甚至可以在极端环境下工作，例如高真空，超高真空，低温或辐射恶劣的环境。

颠覆传统激光三角测距法，3D尺寸精密测量方案提供者线激光位移传感器高场度高性价的线激光位移器，操作简单易懂出厂时已作标定，用户开箱即用，重新定义3D视觉，让3D相机的使用和2D相机一致非接触式晶圆厚度测量系统非接触式晶圆厚度测量系统是一种利用气体动静压原理工作的非触式轴承，由于工作在平面度较好的花岗岩表面，因此本身也能获得非常理想的使用。非接触式晶圆粗糙度测量系统阶梯式测量还原接触测量真实结果:直线电机高精度龙门动机构:兼容抛光、未抛光透明及非透明晶圆测量使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点。

光强信号指示灯显示当前光强是否超过5%。当测量样品未在量程范围内，此时不存在测量信号，该指示灯为熄灭状态。当光强信号大于5%，信号灯点亮为绿色，表明测量数据质量较高。当光强信号小于5%时，信号灯则会显示为橙色预警，提示用户当面光强信号较弱，测量数据效果不佳。此时应该当信号灯点亮为红色时，表明当前光强信号为100%。测量数据的质量存在不确定性，因此可以尝试一下方法解决：量程预警信号灯当前样品是否在测量范围内，当样品不在量程范围内时，该信号灯为熄灭状态。当样品位于量程的15%-85%区间时，该信号灯点亮为绿色。而当样品位于量程的15%以下或85%以上时，该信号灯则显示为橙色，此时测量的数据仍是有效的，只不过需要警惕样品超出量程范围。光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，用户的信赖之选，欢迎您的来电哦！上海点光谱共焦传感器测量范围

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部分案例应用领域：非常适合测量距离、半径、角度、弧度等尺寸的检测。适用于电子、机械加工、五金、塑料加工、汽车等行业。常见的工件包括冲压成型件、注射成型件或激光切割件。一键测量闪测仪是一种新型的影像测量技术，它和传统的二次元影像测量仪不同的是它不再需要光栅尺位移传感器作为精度标，也不要经过大焦距的镜头经过放大产品影像来保障测量精度。传统测量工具多年来精密测量业里流行着这么一句话：影像测量仪是传统投影仪的替代产品，影像测量仪将取代传统投影仪。如今我们将再一次打破传统，闪测仪将取代影像测量仪和传统投影仪。一键测量闪测仪技术参数表格上海Marposs 传感器品牌