SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体，一组分辨率片，ARC-500屏蔽装置，PC，抓帧器，TAM软件，还有一些可选模块组成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上，根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能，另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。Inframet OPO 望远瞄准测试系统，提升电子产品生产线质量控制。上海光电测试系统性能特点
FAPA是一个准通用系统，用于扩展控制/测试红外FPA传感器，专门为进行此类图像传感器开发研究的科学机构使用而优化。它主要用于测试完整的红外FPA传感器(带有读出电子器件的探测器阵列)和热成像仪中心，但也可以测量原始红外FPA传感器的一些关键参数(与ROIC集成之前)。此外，FAPA还可以选择用于测试完整的热成像仪。这样，FAPA就可以成为评估红外FPA传感器生命周期中任何阶段的宝贵工具:原始红外FPA红外传感器、红外FPA传感器、热成像仪**、热成像仪。
FAPA是一个模块化系统，由一系列模块组成，可以配置为创建一系列不同的子系统，用于测量不同参数组。然而，FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具，2.传感器控制/图像处理工具，3.图像采集/计算工具。 上海光电测试系统性能特点光电精确测量，保障医疗器械精确操作。
MAB黑体是在整个太赫兹和亚太赫兹频谱带中商用的并且具有高发射率的大面积宽带黑体。此黑体已经由Inframet研究团队进行了几年的实验研究。
主要特性
宽泛的频谱范围涵盖了THz和亚THz频带；大面积高达1mx1m；Thz/亚THz波段的高发射率；大面积辐射面上具有良好的热均匀性；高温度分辨率1mK和温度稳定性10mK；高速，易于PC控制；紧凑可靠的设计（黑体与控制器集成）。
在国际市场提供的典型面源黑体（包括Inframet提供的TCB/MTB黑体）被优化，以模拟在常用的红外辐射光谱带中的黑体目标：约1μm至约15μm。 这种黑体的发射面的高发射率是通过温度受控的金属板，与其涂覆的高吸收性涂料薄层来实现。
TCB系列黑体是差分面源黑体，旨在模拟低温和适宜的常温目标。使用热电元件控制散热器温度。黑体散热器的温度通常从0℃至100℃可调节，但范围可扩展到-40℃至180℃。黑体发射面（从50x50mm到500x500mm），也可以拓展到更大的发射器，高达1000x1000mm的尺寸。
用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。
Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体（型号TCB-2oD）。但是，应该注意的是，典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2OD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多，需要更大的功率，升温更慢，更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。 光电测试技术，提升家具制造精度与美观度。
DTR短焦热像仪测试系统是传统DT热像仪测试系统的一个特殊版本。这两个系统都是将一系列的标准靶标投影出去，被测热像仪接收成像。DT系统使用了较长焦距和大孔径的离轴反射式光管，而DTR系统则使用较短焦距和小孔径的透射式光管。因此，相同的红外靶标由DTR系统投射后，被测热像仪接收的图像比由DT系统透射出的要更大。从数学上讲，DTR系统可以投射出比典型DT系统空间频率要低几倍的4杆靶图像。
DTR测试系统在测试过程中，被测热像仪的奈奎斯特空间频率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(热像仪的探测器像元尺寸17um，物镜焦距0.68mm)，可满足市场上大多数大视场热像仪的测量需求。另外DTR测试系统提供2个不同焦距和视场的光管供选择，可根据被测热像仪的分辨率和视场来选择适用的光管。通常DTR测试系统提供测试长波热像仪的配置，可选配测量中波热像仪。 明策光电测试系统，提升钟表制造业走时精确度。上海光电测试系统性能特点
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MTB系列黑体是精密的面源黑体，旨在模拟中温目标。使用一个薄的面加热元件来控制散热器温度。黑体散热器的***温度可以调节在约50摄氏度到550摄氏度之间。发射器面积可以从50x50mm到500x500mm，具体取决于型号。应用MTB黑体可用于一系列可能的应用：1、在中温范围内测量热像仪的精度（已知温度的面源）。2、监控系统SWIR成像仪3、用于测试SWIR/MWIRFPAs的系统
至高温度：典型的至高温度为550℃。如果不需要这样的温度，则最高温度可以降低到350℃，并且提供更好的热均匀性。 上海光电测试系统性能特点
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