上海光电测试系统性能特点 诚信为本 上海明策供应

 ST测试系统计算机化测试系统，半自动测试短波红外相机的重要参数；1）ModeI：分辨率，MRC（蕞小可分辨对比度），MTF（调至传递函数），Distortion（畸变），FOV（视场），灵敏度，SNR（信噪比），NEI（噪声等效输入），FPN（固定图形噪声），non-uniformity（非均匀性）等；2）ModeII：MRTD（蕞小可分辨温差，MDTD（蕞小可探测温差），MTF（调至传递函数），NETD（噪声等效温差），FPN（固定图形噪声）等；3）ModeIII：（MeanDetectivity（平均探测率），NoiseEquivalentIrradiance（噪声等效辐亮度），噪声，动态范围等。应用于通讯设备，SIMAT动态目标模拟器确保信号稳定传输。上海光电测试系统性能特点

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。

主要特性

通用的设备，可在实验室或者一般的现场使用。对被测热像仪的光学口径没有限制。SAFT设备和被测热像仪的距离须大于所测热像仪的极小聚焦距离。

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。 安徽光电测试系统生产厂家inframetORl 光学镜头测试系统INFRAMET 测试系统，提升船舶制造精度与安全性。

Ls-dAL光源是多通道标准光源，有四种工作模式，具有的动态范围、可连续调节光强度（能够模拟超亮的白天和黑夜）、计算机化设计，可用于测试可见光-短波红外相机（彩色/单色CCD / CMOS / ICCD / EBCCD相机、短波红外相机），用于中/远程监测应用。

工作模式①卤素灯，色温2856K，模拟夜晚和典型的白天②白光LED，色温超过5000K，模拟极亮的白天③镐强度紫外LED，检测抗紫外线的能力

总量度范围10mcd/m2-10kcd/m2–D（白天版本）10μcd/m2-10kcd/m2–DN（白天/夜晚版本）（注：亮度范围可以扩展）

NVS测量系统的比较大优点就是通过采用不同的透射式平行光管和一组靶标，能够测量所有类型的夜视仪。必须在测量前准备合适的平行光管，靶标和对准被测夜视器件。如果只测试短程夜视镜以及小型夜视设备的情况下推荐NVT/NV14测试

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统，可测试长程夜视瞄准设备，同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计，包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。

光电测试，助力风电行业，提升叶片质量检测。

NVS夜视设备多功能测试系统是一个模块化的测试系统，可测试长程夜视瞄准设备，同时支持测试短程夜视镜及双目夜视镜。因此NVS测试系统是一个多功能测试系统。NVS测试系统采用模块化设计，包括一组可切换的透射式光管、可移动的光源和一组靶标等模块。NVS测试系统的测试过程是基于MIL系列标准的建议。NVS测量系统投影一个标准靶标的图像到水平固定的被测夜视仪。通过调节两个旋钮，操作者可以控制透射到被测量夜视仪光的强度和靶标的类型。被测量器件生成一个畸变的标准靶标的图像。通过人眼观察或者借助测量工具如亮度计来评估这个畸变的图像，得到被测量器件的重要参数。INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统，精确赋能制造业，提升质量检测效率。安徽光电测试系统生产厂家

Inframet DT 热成像光电测试系统，精细分析，助力医疗行业技术革新。上海光电测试系统性能特点

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置，所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距，小口径，宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时，我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体，一组分辨率片，ARC-500屏蔽装置，PC，抓帧器，TAM软件，还有一些可选模块组成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上，根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能，另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。上海光电测试系统性能特点