上海光电测试系统供应 客户至上 上海明策供应

红外靶标用于测试红外成像系统（热像仪）的红外靶标是通过在金属薄板上加工不同图形的孔而形成不同的靶标。当黑体照射靶标时，被测试的热像仪会观察到在均匀背景下的边界锐利的靶标图形，靶标的温度等同于黑体的温度，我们的用于测试红外热像仪的DT/MS系统采用了一系列相对小尺寸的靶标（直径54mm）用于匹配MRRW-8旋转靶轮，相对大尺寸的红外靶标用于LAFT测试系统。

靶标精度：a)±0.012mm，靶标孔**小尺寸大于0.125mm。b)±10**，靶标孔**小尺寸小于0.125mm。c)±0.001mm，针对刀口靶标线性度（用于MTF测量）。

Inframet提供了14种不同类型的标准红外靶标：注意：Inframet标准靶标的有效区域(高发射率涂层覆盖的区域)直径为54mm，Inframet靶标的机械尺寸适用于标准MRW-8靶轮。Inframet可以提供匹配任意生产商制造的靶轮的匹配靶标。 光电技术，为智能交通系统提供可靠信号检测。上海光电测试系统供应

FUT靶标为棋盘型靶标，采用大面积、均匀温度的辐射源，经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大，能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集，为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标，通常不能够进行调节高温度。操作较为简单，插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。

测试功能：FUT靶标可以用于以下测试：•对准误差（热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度）•旋转误差（热通道图像与可见通道图像之间的角度）•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图（与另一通道中的同一像素相比，像素的位移量和位移方向的信息）•热像仪分辨率测试 上海光电测试系统供应Inframet TFEV测温仪测试系统，提升玻璃制造行业透明度检测。

HTB系列黑体是高温腔式黑体炉，温度范围高达1200°C。该系列黑体的优势在于发射腔直径较大，为25mm。黑体腔体是使用底端封闭圆筒的腔体的概念设计的。黑体提供高发射率，超宽光谱带：从0.4μm到超过30μm。 这种宽光谱带使得可以使用HTB黑体作为标准辐射源，其范围从可见光波段到LWIR波段。 HTB黑体可以直接从内部键盘控制，也可以使用标准USB端口从PC远程控制。

主要特性

25mm的较大孔径；

提供从0.4到超过30的高发射率；

可以内部键盘控制，也可以使用USB端口从PC远程控制。

TAIM热瞄准镜和热像仪夹测试系统是DT系统的一个特殊版本，为测试典型的热瞄准镜或热像仪夹而优化，可以快速、多功能和准确地测试。TAIM由DT120测试系统(用作图像投影模块和图像分析模块)，附加一组模块：用于瞄准具测试的Picatinny导轨，两个HEC相机用于捕捉图像，AHEC适配环固定HEC相机的位置，YNAS10平台可以调整相机与被测样品之间的夹角，DPM屈光度量度计，AT720光学平台，可选配其他分析软件和HEC相机和可选DICAN距离调整装置。LS-SAL 短波红外光源，精确测试，引导航天工业新高度。

UHT系列黑体是高温，腔式黑体，温度范围1550℃。黑体的特点在于发射腔的25mm的较大孔径。黑体发射体是使用底端封闭圆筒腔体的概念设计的。可以在0.2μm至超过200μm（可至500μm）的超宽光谱范围内中提供高发射率。这种超宽谱带使得可以将UHT黑体作为UV、可见光、红外波段和THz波段的标准辐射源。UHT黑体可以直接从内部键盘控制，也可以使用标准USB端口从PC远程控制。

主要特性

25mm的较大孔径；

提供从0.2到超过200的高发射率；

可以内部键盘控制，也可以使用USB端口从PC远程控制。 精确测量，光电技术领航纺织行业自动化。上海光电测试系统供应

应用于半导体检测，明策光电技术领航行业标准。上海光电测试系统供应

Inframet MTB面源黑体有优异的温度分辨率，时间稳定性，很高的温度均匀性和优异的温度精度。 所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

主要特性

高分辨率的温度调节（0.01ºC，优于市场上其他的黑体，通常这些黑体分辨率为0.1ºC）；非常好的时间稳定性（0.1ºC，优于市场上提供的其他黑体，通常为0.5ºC）；良好的温度均匀性（1ºC@125ºC，市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm）；所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 上海光电测试系统供应